岗位职责
- 【岗位职责】 1. 测试架构开发:主导DRAM芯片测试架构的设计与构建,开发先进的测试方法,建立完善的产品测试体系,支撑高覆盖度的芯片测试验证; 2. 良率分析与失效定位:利用数据挖掘技术对CP测试结果进行良率分析与失效分析,识别根本原因,推动制程及设计改善,实现产品良率持续提升; 3. 测试程序优化与效率提升:主导CP测试程序的优化,通过流程改进与测试时间缩减,持续提升测试效率并降低测试成本; 4. 制程变更风险评估:评估Fab制程变更对产品良率与可靠性的潜在影响,主导DRB/MRB风险评估及批次处置方案制定。 【任职要求】 1. 教育背景与专业知识:本科及以上学历,微电子、电子信息、自动化、计算机及相关理工科专业,具备半导体器件或芯片测试的基本理论; 2. 专业技能与资格:具备数据分析和统计过程控制知识,能使用数据分析工具完成良率建模与失效分析,具有良好的英语读写能力,能独立阅读国际技术文档; 3. 行业与专业经验:具有2年以上半导体或芯片相关领域工作经验,具备DRAM或Flash内存产品的测试开发与产品验证经历; 4. 其他要求:具有结构化的问题分析与解决能力,能跨部门协作推动项目闭环并输出清晰的技术报告。
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